射频及毫米波应用 (RF & mmW)

旺矽释义

 

晶圆级射频及毫米波(RF & mmW)特性描述是射频及毫米波集成电路开发、设计调试,以及高性能半导体元件建模的关键部分。由于晶圆级 RF 测试仪器(如:矢量网络分析仪、升频器、阻抗调谐器、耦合器、Bias-Ts 及许多其他系统元件)的架设整合具有高度复杂性及需求特殊性,旺矽特为此应用测量的精确度,投入相当多心力。

测量需求

 

射频测量需求主要涵盖 RF 功率及 RF 噪声特性描述之大小信号测量、S 参数、信号源、负载拉移阻抗匹配等。这些应用皆挑战探针台系统的机械稳定性、最短传输路径、测量最佳方向性、长时间于不同类型金属待测物上重复且高一致性的点测能力、以及是否可精确校正至待测物端的能力。

旺矽解决方案

 

旺矽稳固的工程探针台系统,是您在射频及毫米波测量应用的最佳选择。精巧的底座尺寸完全符合 RF 功率及噪声特性描述系统的整合需求。精密且无后座力的 RF 微定位器(MicroPositioners),提供准确定位 RF 探针的能力。

精密设计的 TS150-THZ 探针台系统搭配高端毫米波 MP80 微定位器(MicroPositioner)、以及兼具高倍率及长工作距离的 MPI SZ10 或 MZ12 光学显微镜,尽可能地缩短了毫米波/次毫米波网络分析仪升频器与待测物之间的距离,除实现最短信号传输路径,更确保最佳的测量方向性及精确度。

旺矽 TITAN™ 射频探针系列,采用专利的探针叶片设计及微机电制程制造,提供优异可视角、低接触电阻,甚至在较难探测的铝材上亦能展现极高的接触一致性。

领先业界的校正软件 QAlibria® 及经过验证的校正件(Calibration Substrates),实现业界标准及先进的校正方法,提供 RF 计量校正的解决方案。